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잭, 플러그
(2149 결과)바나나 및 팁 커넥터는 유연성과 가격이 주요 고려 사항인 적당한 용량의 가변 출력 전원 공급 장치 및 멀티미터와 같은 범용 테스트 장비와 관련하여 일반적으로 사용되는 상호 연결 장치입니다. 보다 일반적인 바나나 유형은 플러그를 따라 축 방향으로 움직이는 판 스프링 요소가 특징이며 간단한 관형 잭 개구부에 삽입할 때 고정 기능을 제공합니다. 다소 작은 팁 커넥터는 잭 구성 요소에 고정제가 통합되지 않은 단순한 원통형 플러그를 사용하여 이 개념을 뒤집습니다.
| 부분 # | 제조업체 | 설명 | 유효성 | 가격 | 수량 |
|---|---|---|---|---|---|
 09-9201-1-03511Jacks, Plugs | Concord Electronics | INSULATED PC JACKS | 121 | - | |
 09-9074-1-03516Jacks, Plugs | Concord Electronics | PANEL JACKS AND TERMINALS - THRE | 53 | - | |
 1991880000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Test Adapters And Test Plugs Are Used For The Electrical Connection Between Terminal Blocks And The Test Equipment. | 36 | - | |
 299600000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Conn Test Plug M 1 POS 1 Port | 15140 | - | |
 1991960000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Test Adapter (Terminal), 1.5 mm2, 250 V, 0.2 A | 41 | - | |
 1071080000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Conn Test Jack F 1 POS ST 1 Port | 178 | - | |
2041180000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Test Adapter (Terminal), 1.5 mm2, 250 V, 0.2 A | 20 | - | |
 1991930000Jacks, Plugs | Weidmueller GmbH & Co. KG | Test Adapter (Terminal), 1.5 mm2, 250 V, 0.2 A | 50 | - | |
 XP3A-4654-0750D-S/SJacks, Plugs | Omron Automation | Conn Test Probe M ST 1 Port | 402 | - | |
 XP3A-5866-0725D-D/SJacks, Plugs | Omron Automation | Conn Test Probe M ST 1 Port | 12 | - | |
 XP3B-3029-5050-1-R/DJacks, Plugs | Omron Automation | Conn Test Probe M 1 POS Solder ST 1 Port | 50 | - | |
XP3B-3029-5050-1-R/RJacks, Plugs | Omron Automation | Conn Test Probe M 1 POS Solder ST 1 Port | 50 | - | |
XP3B-3829-5050-1-T/DJacks, Plugs | Omron Automation | Conn Test Probe M 1 POS Solder ST 1 Port | 재고 | - | |
BE70B-J-M-1-08Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
 BE70B-J-M-2-08Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-1-02Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-1-04Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-1-08Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-1-12Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-2-04Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-2-08Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
BE70B-J-S-2-16Jacks, Plugs | Samtec, Inc. | Replacement Block for 70 GHz, Bulls Eye High Performance Test System | 재고 | - | |
050552Jacks, Plugs | TE Connectivity | 552 Probe, 22 Ga Hypodermic | 재고 | - | |
 081106Jacks, Plugs | TE Connectivity | Conn Tubular Probe M 1 POS RA 1 Port Tube | 재고 | - | |
 AXS-1612-04-01CJacks, Plugs | Abracon | Conn Precision Test Socket F 4 POS Solder ST Thru-Hole 4 Port Bulk | 3 | - |
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