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Texas Instruments
SN74BCT8374ANTG4
703-SN74BCT8374ANTG4
PDF 데이터시트
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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전문 플랫폼
B2B 및 B2C 구매초고속 배송
1-2일 이내 배송다양한 종류
정품 제조업체365일 보증
책임 있는 품질
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기술 사양
작동 온도
0°C ~ 70°C
논리 유형
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
ECCN
EAR99
장착 유형
Through Hole
제품상태
Obsolete
공급자 장치 패키지
24-PDIP
시리즈
74BCT
패키지/케이스
24-DIP (0.300", 7.62mm)
FAQ
SN74BCT8374ANTG4의 장착 방식은 무엇인가요?
현재 제품 사양에 따르면 SN74BCT8374ANTG4의 장착 방식은 Through Hole입니다.
SN74BCT8374ANTG4에 수량별 가격이 있나요?
SN74BCT8374ANTG4은(는) 무엇인가요?
SN74BCT8374ANTG4은(는) 현재 재고가 있나요?
SN74BCT8374ANTG4은(는) 어떤 동작 온도 범위를 지원하나요?
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