Texas Instruments_CSD16327Q3
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Texas Instruments
CSD16327Q3

278-CSD16327Q3
PDF 데이터시트
25V N-CH NexFET MOSFET, 4mR Rds(on), 60A ID, VSON
12 Weeks

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APAC
ISO9001
Quality Policy
ISO45001
ISO14001
Original

기술 사양

Package/Case
VSON
Contact Plating
Tin
Continuous Drain Current (ID)
60A
Drain to Source Breakdown Voltage
25V
Drain to Source Resistance
3.4mR
드레인-소스 전압(Vdss)
25V
Element Configuration
Single
Fall Time
6.3ns
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FAQ

CSD16327Q3의 표준 리드타임은 얼마인가요?
CSD16327Q3에 현재 표시된 표준 리드타임은 12 Weeks입니다.
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