IC용 테스트 클립은 임시 전기 연결을 제공하기 위해 IC 칩과 측정 장치 사이에 가장 자주 사용됩니다. 이 제품군의 품목은 스프링이 장착되어 있으며 IC 리드에 부착되도록 설계된 여러 접점을 가지고 있습니다. IC 유형은 DIP, LCC, PLCC, QFP, SOIC 및 SSOP이며 위치 수는 8(1 x 8 또는 2 x 4)에서 240(17 x 17)까지입니다.